ации, которые рассмотрим последовательно. Первую из них демонстрирует кривая 1 на рис. 8.6. Она характеризуется наличием резкого излома на функции Цй. Ясно что здесь не возникает проблем, и точку излома можно считать совпадающей с tb. Следует иметь в виду, что плавная в одних координатах кривая может иметь излом в других. Поэтому, если кривая не имеет ясно выраженного периода приработки в линейных координатах, можно рекомендовать построить ее в полулогарифмических и логарифмических координатах. Иногда этот простой прием позволяет определить tf,.

Вторая ситуация характеризуется тем, что функция ИО может быть описана аналитически и эта аналитическая функция стремится с ростом t к постоянному значению. В этом случае задача также решается просто. Покажем это на данных примера 8.2, п. «е». В соответствии с формулой для ИО распределения Макегама (см. табл. 8.1) имеем

?t(?) = + 8exp(-a/),

так что Iim?i(ioo) = . Примем, что концом периода приработки является момент, когда значение ИО превышает установившееся значение не более чем на 100 w% [8.60]. Это означает, что

откуда

X(?b) = + 8exp(-a?b) = +m?b=-ilnK/8). (8.21)

Величина т обычно равна 0,05-0,1. Ее выбор не может быть формализован и проводится из интуитивных соображений. Возвращаясь к численным данным примера 8.2, п. «е», имеем = 0,47-10-3, 8 = 2•10- а=7,2-10- Пусть т = 0,10, тогда из (8.21) получаем

Это значение показано стрелкой на рис. 8.18. .

Наконец, третья ситуация характерна тем, что не наблюдается резкого излома ИО. Напротив, ход функции Хк) исключительно плавный (см., например, рис. 8.6, кривые 2 и 5). Построение тех же функций в других координатах показывает, что никакого излома не появляется. Здесь возможны два варианта. В одном из них период приработки отсутствует. В этом нет ничего необычного. Построение кривой 5 на рис. 8.6 в логарифмических координатах показало, что все точки хорошо ложатся на прямую линию, т. е. имеет место распределение Вейбулла со значением Р, меньшим единицы. Во

x-W,1/4

40 -

90°/о-ныи до8е-Ърительный. ан-тервал Вля ИО

500 ig=7304 ЮОО

1500

Рис. 8.20. Построение эмпирической функции ИО по данным эксплуатации: --эмпирическая функция ИО; х -значения ИО, по которым строится аналитическая аппроксимация

втором варианте можно рекомендовать следующее. Взяв эмпирическое значение ИО в точке максимальной наработки, определим для него доверительные границы и проведем через верхнюю границу ИО горизонталь до пересечения с функцией Абсциссу точки пересечения можно принять за значение Этот подход проиллюстрирован рис. 8.20. Сначала по исходным данным найдем 1;,. Имеем (табл. 8.7) и = 2298, J=3. Воспользуемся номограммой биномиального распределения. Для этого вместо и = 2298 надо взять такое меньшее значение и (так как на номограмме п ограничено значением 1000), чтобы прямая, проводимая через точки и и J- 1, не выходила за край левой шкалы. Пусть, как и раньше, а=0,10, т. е. Р* = 0,9 и Р* = Р* = 0,95. Удобно взять и таким, чтобы оно совпадало с одним из делений номограммы. Выберем и= 500. Тогда прямая линия, .соединяющая точку 0,95 на правой пжале и точку (500,9) на сетке, пересекает левую пжалу в точке 1, = 0,0105. Аналогично прямая линия, соединяющая точку 0,05 на правой шкале и точку (500,10) на сетке, пересекает левую пжалу в точке 0,032. Значения q„ и q, соответствующие истинному объему данных, найдутся из соотношений [8.61]

Из (9.22) получаем, что „=0,0105 • 500/22982,3 • Ю-з 3 = 0,032-500/2298 = 7,0-10-3, откуда „ = 0,993 и .«„=0,9977 Так как д? = 250, то 5ьй!2,8 • ЮМ/ч и „й;9,2 • lO i/; Нанесем этот интервал на рис. 8.20 и проведем горизонталь через значение ИО, равное 2,8 10-1/4. Точка пересечения этой горизонтали с кривой X{t) и дает значение периода приработки: 1ьх130 ч.

Режимы проведения испытаний СПП на надежность. Исключительно важное значение для повышения эффективности испытаний имеет правильный выбор испытательного режима. В практике силового полупроводникового приборостроения применяют следующие режимы:

1) низкотемпературного хранения;

2) высокотемпературного хранения [8.22];

3) выпрямительный (номинальный, статический) с раздельными источниками [8.9, 8.10, 8.22, 8.23];

4) выпрямительный [8.10];

5) ждущий с приложением переменного напряжения [8.17, 8.23, 8.62];

6) ждущий с приложением постоянного напряжения [8.16, 8.62];

7) инверторный [8.63];

8) инверторный в эквивалентной испытательной схеме [8.63-8.66];

9) электротермоциклирования [8.22];

10) импульсного циклирования [8.10];

11) многократных ударных токов [8.10]. Низкотемпературное (высокотемпературное) хранение-это

режим испытаний, при котором СПП подвергают воздействию комнатной или пониженной (повышенной) температуры без приложения электрических воздействий.

Выпрямительный режим с раздельными источниками-ре-

1 жим испытаний, в котором через СПП от низковольтного сильноточного источника пропускается ток, происходит естественная коммутация, а затем от маломощного высоковольтного источника прикладывается обратное напряжение (обычно полусинусоидальное).

Выпрямительный режим-режим испытаний, в котором через СПП протекает ток от мощного источника и прикладывается прямое и обратное напряжения, причем динамические воздействия на СПП [{di/dt),/, {dU/dt\,f] далеки от своих критических значений.

Ждущий режим с приложением переменного напряжения- режим испытаний, в котором к СПП в непроводящем состоянии прикладывают переменное напряжение, обычно синусоидальное.

J Ждущий режим с приложением постоянного напряжения -

Ьрежим испытаний, в котором к СПП в непроводящем состоянии