5.7. Chowdhary Transient voltage characteristic silicon power rectifiers IEEE Trans. Ind. Appl. 1973. Vol. 9, N 3. P. 582-592. 5.8- Thyristor-Handbuch. Siemens. 1974.

К главе 6

6.1. Марцинкявнчус А.-Й. К., Багданскнс Э.-А. К., Пошюнас Р. Л. Бысгро-дейстаующие интегральные микросхемы ЦАП и АЦП и измерение их параметров. М.: Радио и связь, 1988.

6.2. Веревкнн В. В., Чесноков Ю. А., Савкнн А. И. Цифровое устройство для измерения коммутационных параметров тиристоров Электротехн. пром-сть. Сер. Преобразоват. техника. 1982. Вып. 5 (142). С. 10-13.

6.3. Лаипе Р., Фншер Ф. Измерения в энергетической электронике: Пер с нем. М.: Энергоатомиздат, 1986.

6.4. Векслср М. С, Теплннскнй А. М. Шунты переменного тока. Л.: Энергоатомиздат. Ленингр. отд-ние, 1987.

6.5. Болотин И. Б., Эндель Л. 3. Измерения при испытании аппаратов в режимах короткого замыкания. Л.: Энергоатомиздат. Ленингр. отд-ние, 1988.

6.6. Шваб А. Измерения на высоком напряжении: Измерительные приборы и способы измерения: Пер. с нем. М.: Энергоатомиздат, 1983.

К главе 7

7.1. Бабайлов В. М., Третьяков Г. А. Охладители силовых полупроводниковых приборов систем воздушного охлаждения. М.: Информэлектро, 1977.

7.2. Бабайлов В. М. Проблемы и перспективы развития конструкций силовых полупроводниковых приборов и их охлаждающих устройств. Тез. докл. V Всесоюз. научно-технической конференции «Повышение эффективности силовых полупроводниковых приборов и преобразователей на базе новой техники». М.: Информэлектро, 1971.

7.3. Охладители силовых полупроводниковых приборов систем жидкостного охлаждения. Тепловые трубы и термосифоны/В. М. Бабайлов, В. В. Галактионов, В. Д. Портнов, В. Я. Сасин. М.: Информэлектро, 1974.

7.4. Васильев Л. Л., Конев С. В. Низкотемпературные тепловые трубы. Минск: Наука и техника. 1976.

7.5. Арефьев В. А., Алексеев В. А. Проектный расчет оребренных тепловых труб для систем охлаждения РЭА Вопросы радиоэлектроники. Сер. ТРТО. 1978. № 2. С. 68-75.

7.6. Беляев Н. И. Труды по теории упругости и пластичности. М.: Изд-во технич. теоретич. лит., 1957.

7.7. Малнннн Н. Н. Прикладная теория пластичности и ползучести. М.: Машиностроение, 1968.

7.8. Мэнсон С. Температурные напряжения и малоцикловая усталость. М.: Машиностроение, 1974.

7.9. Конструирование силовых полупроводниковых преобразовательных агрегатов/С. Р. Резинский, В. С. Лабковский, И. X. Евзеров и др. М.: Энергия, 1973.

7.10. Идельчик И. Е. Гидравлические сопротивления. М.: Госэнергоиздат, 1954.

7.11. Туник А. Г. Охлаждение РЭА жидкими диэлектриками. М.: Сов. радио, 1973.

К главе 8

8.1. ГОСТ 27.002-89. Надежность в технике. Основные понятия. Термины и определения.- Введ. с 01.07.1990.

8.2. Мердок Дж. Контрольные карты. М.: Финансы и статистика, 1986.

8.3. ГОСТ 20.39.312-85. Изделия электротехнические. Требования по надежности.-Введ. с 01.01.87.

8.4. Ведерников В. R, Горюнов Н. Н., Голубева Т. Л. О моделях надежности полупроводниковых приборов Электронная техника. Сер. 12. 1971. Вып 3. С. 41-44.

8.5. Го Вай, Го Юэ. Проблемы ранних отказов: Обзор современного состояния вопроса тренировки ТИИЭР. 1983. Т. 71, №11, С. 33-44.

8.6. Гнеденко Б. В., Беляев Ю. К., Соловьев А. Д. Математические методы в теории надежности. М.: Наука, 1965.

8.7. Стандартизация методов испытаний силовых полупроводниковых приборов на надежность/А. М. Григорьев. А. Н. Ильичев, В. Е. Либер, В. Л. Шпер Электротехн. пром-сть. Сер. Преобразоват. техника. 1981. Вып. 8 (136). С. 24-26.

8.8. Григорьев А. М., Шпер В. Л. Влияние факторов нагрузки на надежность СПП в эксплуатации Электротехника. 1983. №6. С. 37-40.

8.9. Schwickardi G. G. Long-Term Life-Tests of Industrial Power Thyristors (SCRs) over 50000 Hours IEEE Trans. Reliab. 1976. Vol. 25, N 2. P. 123-125.

8.10. Бардин В. М. Надежность силовых полупроводниковых приборов. М.: Энергия, 1978.

8.11. Бардин С. М., Бардин В. М. Оценка длительности периода приработки и эффективности технологической тренировки силовых тиристоров Надежность и контроль качесгеа. 1979. № 1. С. 36-41.

8.12. Исследование надежности оптронных тиристоров/О. М. Баев, А.М.Григорьев, Г. А. Синегуб, В. С. Степанов Электротехн. пром-сть. Сер. Преобразоват. техника. 1983. Вып. 8, С. 16-18.

8.13. Надежность технических систем: Справочник/Ю. К. Беляев, В. А. Богатырев, В. В. Болотин и др.; Под ред. И. А. Ушакова. М.: Радио и связь, 1985.

8.14. Григорьев А. М., Синегуб Г. А., Шиер В. Л. Основные направления исследования и повышения надежности силовых полупроводниковых приборов. М.: Информэлектро. 1985. Сер. 05. Вып. 1. С. 1-53.

8.15. Као Дж. Модели долговечности и их использование: Пер. с англ./В кн.: Справочник по надежности. М.: Мир, 1969, Т. 1. С. 51-76.

8.16. Locher R. е. Large diameter rectifier diodes and thyristor in service reliability IEEE Conf Rec. 9th Anuu. Ind. Appl. Soc. Meet. N.Y. 1974. P. 463-465.

8.17. Comstock W. R., Locher R. E. High Current Diode and SCR Reliability Considerations IEEE Power Electron. Spec. Conf 1975. P. 224-233.

8.18. Blunt P. Reliable thyristors and triacs in TO-220 plastic packages Electron. Сотр. and Appl. 1979. Vol. 2, N 1. P. 53-63.

8.19. Morozowich M., Falvo V. A. Wearout and Failure Rates for Disc Semiconductors Powerconversion International. 1981. Vol. 7, N 3. P. 71-73.

8.20. Chick R, F., Karstaedt W. H. Reliabihty in the application of high power semiconductors IEEE Ind. Appl. Soc. 13th Annu. Meet. 1978. P. 1050- 1055.

8.21. Herr E. A., Pol A., Fox A. Reliability Evaluation and Prediction for Discrete Semiconductors IEEE Trans. Reliab. 1980. Vol. 29, N 3. P. 208-216.

8.22. Аппаратура к методы контроля параметров силовых полупроводниковых приборов/В. М. Бардин, Л, Г. Моисеев, Ж. Г. Сурочан, О. Г. Чебовский. М.: Энергия, 1971.

8.23. Портной С. е., Теиман И. А., Сурия А. В. Вопросы эксплуатационной надежности силовых полупроводниковых приборов и ускоренной оценки ее Электронная техника. Сер. 8. 1975. № 9. С. 53-60.

8.24. SCR Маппа! Fifth Edition General Electric Electronics Park, Syracuse, 13201. New York, 1972.

8.25. SCR Manual Sixth Edition General Electric Electronics Park, Syracuse, 13201. New York, 1979.

8.26. Дроневич В. М. Количественная оценка воздействия эксплуатационных факторов нагрузки на интенсивность отказов полупроводниковых приборов Электронная техника. Сер. 8. 1977. № 1. С. 8-21.

8.27. Пнтти, Адаме, Кэррелл. Слагаемые надежности полупроводниковых приборов ТИИЭР. 1974. Т. 62. № 2. С. 6-37.

8.28. Ведерников В. В., Горюнов Н. Н., Чернышев А. А. Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов. М.: Знание, 1977. Вып. 2.

8.29. Волгина А. Н., Горюнов Н. Н. Исследование распределений отказов (самовключений) тиристоров Надежность и контроль качества. 1969. № 6. С. 10-18.

8.30. Григорьев А. М., Шпер В. Л. Методы расчета надежности силовых полупроводниковых приборов Электротехника. 1984. № 5. С. 42-49.

8.31. Машннн С. В. Силовые полупроводниковые приборы в пластмассовом корпусе (конструкция и надежность) Электротехн. пром-сть. Сер. Преобразоват. техника. 1978. Вып. 9. С. 22-28.

8.32. Candade V. S. Sequence test method for reliability evaluation of semiconductor devices Microelectron. Reliab. 1981. Vol. 21, N 2. P. 225-229.

8.33. Лаптева Т. И. Методы расчета надежности тиристоров импульсных систем регулирования напряжения электроподвижного состава городского транспорта Электричество. 1974. № 12. С. 49-54.

8.34. Бардин В. М. Особенности работы силовьк полупроводниковых вентилей в циклическом режиме Изв. вузов. Сер. Электромеханика. 1971. № 2. С. 185-189.

8.35. Бардин С. М. О законе распределения циклостойкости тиристоров Т2-320/В кн.: Силовые полупроводниковые приборы и преобразовательные устройства. Саранск: Мордов. ун-т. 1980. С. 32-37.

8.36. Грншуков Л. С, Ситченко Л. С. Исследование характеристик старения полупроводниковых вентилей/В кн.: Тр. ЛИИЖТ. 1974. Вып. 362. С. 109-116.

8.37. Wojtolla Р. Temperaturwechselwersuche an grossflaichigen Thyris-toren Siemens-Z. 1974. Bd. 48, N 8. S. 575 - 577.

8.38. Плоткнна H. 3., Цзии Ю. Д. Испытания силовых тиристоров на (йг/Л)-стойкость / В кн.: Тр. НИИПТ. Энергоиздат. Ленингр. отд-ние. 1981. С. 68-74.

8.39. Сннегуб Г. А., Шпер В. Л. Исследование (di/dt)-CToPikocm силовых тиристоров. Постановка проблемы и ее современное состояние. Электротехн. пром-сть. Сер. Преобразоват. техника. 1981. № 1. С. 12-16.

8.40. Somos I. L. Current condiction for meaningful di/dt test.

8.41. Piccone D. E., Somos I. L. Accelerated life tests for determining the life expectancy of a thyristor due to di/dt failure IEEE Conf. Rec. 7th Ind. Appl. Soc. Mut. 1972. P. 469-476.

8.42. Ikeda Sh., Tsuda Sh., Waki Y. The current pulse ratings of thyris-tors IEEE Trans. Electr. Dev. 1970. Vol. 17, N 9. P. 690-693.

8.43. Сннегуб Г. A. Теоретическая оценка (di/dt)-crroviKOcrm силовых тиристоров Электротехн. пром.-сгь. Сер. Преобразоват. техника. 1981. № 9. С. 1-2.

8.44. Гольдснблат И. И., Бажаиов В. Л., Копнов В. А. Длительная прочность в машиностроении. М.: Машиностроение, 1977.

8.45. Иванов В. А., Коидаков Ю. А., Рожкова Н. Н. Стойкость тиристоров к (di/dt) и надежность их работы Электротехн. пром-сть. Сер. Преобразоват. техника. 1981. Вып. 8. С. 26-29.

8.46. Дерменжи П. Г., Ковров А. М., Рудько В. Д., Рухамкнн В. М. Предельная (йг/йГ)-стойкость силовых быстродействующих тиристоров с усилительным управляющим электродом Электротехн. пром-сть. Сер. Преобразоват. техника. 1984. Вып. 10. С. 1-3.

8.47. Долгих В. А., Плоткнна Н. 3., Цзин Ю. Д. Контроль стойкости тиристоров к процессу включения Электронная техника. Сер. Электровакуумные и газоразрядные приборы. 1979. Вып. 5. С. 59-65.

8.48. Чесноков Ю. А. Работоспособность тиристоров таблеточной конструкции при многократном воздействии ударного тока Электротехн. пром-сть. Сер. Преобразоват. техника. 1973. Вып. 1. С. 7-8.