Доставка цветов в Севастополе: SevCvety.ru
Главная -> Силовые полупроводниковые приборы

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 [142] 143

8.49. Эксиернментальная оценка возможности прогнозирования надежности СПП методами теории распознавания образов / Е. 3. Бухтор, А. М. Григорьев, Г. В. Ермачков, Б. В. Крьшов.- В кн.: Силовые полупроводниковые приборы и преобразовательные устройства. Саранск, 1976. Вып. 6, С. 3-9.

8.50. Brindle К., Muugenast J., Weil G. The surge current rating of very large semiconductors. Some implications to the equipment designer IEEE 7th Ind. Appl. Soc. Meet. 1972. P. 841-850.

8.51. Бардия В. М., Волков Б. В. Закон распределения отказов силовых тиристоров при воздействии токовых перегрузок Электротехн. пром-сть. Сер. Преобразоват. техника. 1976. № 3. С. 1, 2.

8.52. Бардин В. М., Волков Б. В., Бартанов А. Б. Модель долговечности силовых тиристоров при воздействии токовых перегрузок/в кн.: Надежность микроэлектронных схем и элементов. Киев: Наукова думка, 1978. С. 191-196.

8.53. Капур К., Ламберсон Л. Надежность и проектирование систем: Пер. с англ. М.: Мир, 1980.

8.54 Заренин Ю. Г. Контрольные испытания на надежность. М.: Изд-во стандартов, 1970.

8.55. Зарении Ю. Г., Стоянов И. И. Определительные испытания на надежность. М.: Изд-во стандартов, 1978.

8.56. Larson Н. R. А Nomograph of the Cumulative Binomial Distribution Ind. Qual. Control. 1966. Dec. P. 270-278.

8.57. Фншбейн Ф. И. Номограмма, реализующая функцию биномиального распределения Надежность и контроль качества. 1972. № 12. С. 51-63.

8.58. Барлоу Р., Прошан Ф. Математическая теория надежности: Пер. с англ./Под ред. Б. В. Гнеденко. М.: Сов. радио, 1969.

8.59. Большей Л. Н., Смирнов Н. В. Таблицы математической статистики. М.: Наука, 1983.

8.60. Оценка показателей безотказности восстанавливаемых объектов по результатам эксплуатации или испытаний. М.: Изд-во стандартов, 1977.

8.61. Фншбейн Ф. И. Графические методы в планировании и обработке результатов испытаний на надежность/В кн.: В помощь слущателям семинара по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции. М.: Знание, 1979. С. 3-55.

8.62. Brindle К., Mungenast J. Differences in behavior of thyristors in AC and DC circuitry IEEE 12th Ind. Appl. Soc. Meet. 1977. P. 829-832.

8.63. Гриценко A. K., Глух E. M. Прогнозирование потенциально ненадежных тиристоров на этапе приработки Применение тиристорных преобразователей в электроэнергетике. М.: ЭНИН, 1972. Вып. 3/1. С. 200-217.

8.64 Стенд для тренировки и испытаний силовых полупроводниковых приборов/М. И. Абрамович, И. В. Кузнецова, В. Е. Либер, А. А. Сако-вич Электротехника. 1974. № 6. С. 23-26.

8.65. Buri Н., Zeipold Р. Anwendungsbezogene Prijfungen schneller Thyris-toren BBC -Nachr. 1979. Bd. 61, N 12. S. 459-564.

8.66. Stoop Th., Janseu M.H.J. Life -testing of high-power thyristors under extreme electrical and thermal condition IEEE Ind. Appl. Soc. 13th Meet. 1978. P. 1029-1035.

8.67. Гуревич M. K. О выявлении потенциально ненадежных силовых тиристоров по значениям параметров «транзисторной» ВАХ Электронная техника. Сер. 4. 1980. Вып. 5. С. 31-33.

8.68. Матвеев В. В., Лытаев Р. А. О прогнозировании надежности тиристоров по величине низкочастотных щумов Электротехника. 1986. № 11. С. 50-52.

8.69. Shappirio J. R., Cook С. F. Modem Analytical Techniques for Failure Analysis Solid State Technol. 1979. Vol. 22, N 9. P. 89-94.

8.70. Application of New Methods and Techniques for Failure Analysis Sohd State Technol. 1975. Vol. 18, N 3. P. 38-40.

8.71. Richards B. P., Footner P. K. Failure analysis in semiconductor devices - rationale, methodology and practice Gen. Electr. Сотр. J. of Research. 1983. Vol. 1, N 2. P. 74-91.



8.72. Меламедов И. М. Физические основы надежности. Л.: Энергия. Ленингр. отд-ние, 1970.

8.73. Сорокин Ю. Г. Влияние дислокаций на электрические параметры р-п переходов Тр. ВЭИ. М.: Энергия, 1980. Вып. 90. С. 91-101.

8.74. Исследование механизмов снижения напряжения пробоя кремниевых высоковольтных многослойных структур/о. в. Богородский, Т. П. Воронцова, О. С. Жгутова и др. ЖТФ. 1985. Т. 55. Вып 7. С. 1419-1425.

8.75. Агаларзаде П. С, Петрнн А. И., РЬцдннов С. О. Основы конструирования и технологии обработки поверхности р-п перехода. М.: Сов. радио, 1978.

8.76. Бардин В. М., Пономарев Е. П. Надежность силовых полупроводниковых приборов при работе в циклических режимах Электротехника. 1988. № 10. С. 59-61.

8.77. TserHg Н. А., Plumiee Н. R. Performance degradation of bidirectional triode thyristors due to dildt stress Sol. St. Electron. 1971. Vol. 14, N 2. P. 111 - 113.

8.78. Родов В. И., Сннегуб Г. А., Яхннс А. Р. О возможных причинах отказов импульсных тиристоров Полупроводниковые приборы и их применение. 1973. № 27. С. 117-131.

8.79. Комаишко Г. С, Пастухов А. Ю., Якерсон Л. С. Исследование влияния дефектов, обусловленных механическими напряжениями, на электрические характеристики и механические свойства полупроводниковых структур Изв. ЛЭТИ. 1984. Вып. 338. С. 82-86.

8.80. Пек, Зирдт. Надежность полупроводниковых приборов на фирме Bell System ТИИЭР. 1974. Т. 62, Ш 2. С. 65-104.

8.81. Шпер В. Л. Номограммы для расчета показателей надежности невосстанавливаемых элементов Надежность и контроль качества. 1987. № 6. С. 3-10.

8.82. Гугушвили Дж. Ф., Жгентн И. Д., Намиченшвнлн О. М. К вопросу ускоренных испытаний на надежность Изв. АН СССР. Сер. Техническая кибернетика. 1975. № 2. С. 96-99.

8.83. Седя№нн Н. М. Об одном физическом принципе надежности Изв., АН СССР. Сер. Техническая кибернетика. 1966. № 3. С. 80-87.

8.84. Сотсков Б. С. Основы теории и расчета надежности элементов и устройств автоматики и вычислительной техники. М.: Высшая школа, 1970.

8.85. Григорьев А. М., Погасни Е. Ф. Оценка эксплуатационной надежности силовых полупроводниковых приборов Тр. ВЭИ. 1980. Вып. 90. С. 125-134.

8.86. Farnholtz D. F. Operational life testing of semiconductor devices West. Иес. Eng. 1981. Vol. 25, N 3. P. 3-9.

8.87. Григорьен A. M., Шпер В. Л. Результаты экспериментального исследования показателей надежности СПП Электротехника. 1991. № 1. С. 53-57.

8.89. Мубаракшнн Ф. X. Расчет надежности вентильных блоков с неравномерным делением тока между ветвями Автоматизация энергосистем и энергоустановок пром. предприятий. Челябинск. 1987. С. 66-68.

8.90. Гаскаров Д. В., Зозанян С. И., Семенов R М. Построение модели надежности при двухступенчатом температурном испытании Пром-сть Армении. 1984. № 4. С. 33-35.

8.91. Афанасьев А. И. К вопросу выбора закона распределения отказов при расчете вероятности безотказной работы тиристорных устройств Надежность и контроль качества. 1980. № 7. С. 18-22.

8.92. Матвеев В. В. Оценка и прогнозирование надежности тиристора по текущему качеству его структуры Электронная техника. Сер. УКСМИ. 1984. Вып. 1. С. 27-29.

8.93. Хазен М. М., Семенов Г. М. Влияние температурного режима р-п-структуры на интенсивность образования дефектов в контактных соединениях силовых полупроводниковых диодов в условиях эксплуатации Дефектоскопия. 1982. Ш 3. С. 85-89.



ОГЛАВЛЕНИЕ

Предисловие .......................................................................................................

Глава 1. Принцип действия и основные свойства полупроводниковых выпрямительных диодов и триодных тиристоров, не проводящих в обратном направлении ...........................................................................

1.1. Общие положения ............................................................................;

1.2. Электронно-дырочный переход.......................................................

1.3. Силовой полупроводниковый выпрямительный диод ................

1.4. Силовой триодный тиристор, не проводящий в обратном направлении ........................................................................................ 17

Глава 2. Параметры и характеристики силовых диодов и тиристоров ....... 32

2.1. Общие сведения о параметрах и характеристиках СПП ........ 32

2.2. Основные параметры силовых диодов и тиристоров .............. 34

2.3. Основные тепловые параметры и характеристики диодов и тиристоров .............................................................................................. 40

2.4. Классификация силовых диодов и тиристоров .......................... 45

2.5. Условные обозначения силовых полупроводниковых выпрямительных диодов и триодных тиристоров, не проводящих в обратном направлении ......................................................................... 49

2.6. Особенности силовых диодов и тиристоров как электротехнических изделий, комплектующих схему силового полупроводникового преобразовательного устройства .................................. 53

Глава 3. Исходные данные дли расчета и выбора диодов и тиристоров

и условий их охлаждении ....................................................................... 57

3.1. Режимы и условия работы диодов и тиристоров .................... 57

3.2. Классификация силовых полупроводниковых преобразовательных устройств .................................................................................... 0

3.3. Особенности расчета и выбора диодов и тиристоров............ 63

Глава 4. Расчет и выбор диодов и тиристоров, условии их охлаждения

и расчет системы управления тиристорами .......................................... 78

4.1. Расчет, и выбор типа СПП и условий его охлаждения по

рабочему току .................................................................................... 78



0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 [142] 143



0.0469
Яндекс.Метрика